Разделы сайта

Структуры фильтров, которые не моделируются AWR Filter Synthesis Wizard

В первой структуре длины как шлейфов, так и линий между шлейфами колеблются между четвертью и половиной длины волны (рис. 5.34). характеристики изображены на рис. 5.35.

Рис. 5.34«Схема фильтра»

Рис. 5.35«Коэффициент передачи и коэффициент отражения фильтра»

Рис. 5.36«Топологическая схема фильтра»

Размеры площадки, которую занимает топология, изображенная на рис. 5.36 - 84,8 мм по ширине и 37 мм по высоте.

Рассмотрим другую структуру (рис. 5.37 - 5.38)

Рис. 5.37«Схема фильтра»

Рис. 5.38«Коэффициент передачи и коэффициент отражения фильтра»

Топологическая структура фильтра аналогичная структуре на рис. 5.36, но размеры имеет поменьше ширина - 79 мм и высота - 37 мм.

Самое читаемое:

Характеристики нанотолщинных композиционных слоистых покрытий на гибких подложках после деформации
Жидкокристаллические индикаторы широко используют в оптических устройствах отображения информации, в частности, как составную часть жидкокристаллических дисплеев. В зависимости от материала подложек различают жесткие (стеклянные подложки) и гибкие (пластиковые подложки) индикаторы. Преимущества гибких индикаторов в компактности, пр ...