создать систему компьютерного управления расходом металла, скоростью вытяжки заготовки и ее вторичным охлаждением на основе комплексного световодного и радиолокационного, контактного и многоцветового бесконтактного непрерывного контроля теплофизических параметров, определяющих процессы формирования заготовки в кристаллизаторе: температуры расплава в промежуточном ковше, уровня и толщины шлакового покрытия металлов в кристаллизаторе, количества отводимого кристаллизатором тепла, температуры поверхности заготовки под кристаллизатором и в зоне вторичного охлаждения, что обеспечит требуемые для получения качественного проката минимальные термические напряжения и структурную однородность заготовки, повышение производительности разливки и исключит прорывы металла под кристаллизатором.
Самое читаемое:
Характеристики нанотолщинных композиционных слоистых покрытий на гибких подложках после деформации
Жидкокристаллические
индикаторы широко используют в оптических устройствах отображения информации, в
частности, как составную часть жидкокристаллических дисплеев. В зависимости от
материала подложек различают жесткие (стеклянные подложки) и гибкие
(пластиковые подложки) индикаторы. Преимущества гибких индикаторов в
компактности, пр ...