Тогда суммарная интенсивность отказов элементов платы
λобщ = 58,01*10-6,
Среднее время наработки на отказ элементов платы:
Т = 17238 ч.
Тогда по Р(t)=е-t/T рассчитываем вероятность безотказной работы разработанного модуля. Надежность системы:
Таблица 9.4 - Надежность системы
|
Т/час |
100 |
1000 |
2000 |
4000 |
10000 |
20000 |
30000 |
40000 |
|
Рбезот. сиc. |
0.994 |
0.944 |
0.89 |
0.793 |
0.56 |
0.313 |
0.175 |
0.098 |
Самое читаемое:
Задачи исследования защищённости информации от утечки по каналу ПЭМИН
Электромагнитные поля, возникающие как побочный продукт работы
устройств обработки информации, и вызываемые этими полями наведенные напряжения
называют побочными электромагнитными излучениями и наводками (ПЭМИН). Задача
анализа опасности ПЭМИН с позиций возможности утечки информации является весьма
сложной и трудоемкой. Для е ...