Тогда суммарная интенсивность отказов элементов платы
λобщ = 58,01*10-6,
Среднее время наработки на отказ элементов платы:
Т = 17238 ч.
Тогда по Р(t)=е-t/T рассчитываем вероятность безотказной работы разработанного модуля. Надежность системы:
Таблица 9.4 - Надежность системы
|
Т/час |
100 |
1000 |
2000 |
4000 |
10000 |
20000 |
30000 |
40000 |
|
Рбезот. сиc. |
0.994 |
0.944 |
0.89 |
0.793 |
0.56 |
0.313 |
0.175 |
0.098 |
Самое читаемое:
Разработка микроконтроллерного устройства стабилизации температуры
Эффективная организация контроля информации приобретает всё большее
практическое значение, прежде всего как условие успешной практической
деятельности людей. Объем информации, необходимой для нормального
функционирования современного общества, растёт из года в год. На сегодняшний
день складывается ситуация, в которой наряду с самой ...